Global Sources
EET Times-Korea
 
EET Times-Korea > ³×Æ®¿öÅ©
 
 
³×Æ®¿öÅ©  

½Ã¹Ä·¹ÀÌ¼Ç ±â¹ÝÀÇ ¸¶½ºÅ© °áÇÔ ÀÎÁõ

°ÔÀç: 2003³â02¿ù16ÀÏ  ÀÎ¼â  Bookmark and Share °¡ÀÔ

Ű¿öµå£º umc  numerical  simulation  mask defect  qualification 

[±â»ç ¿ä¾à] Numerical»ç¿Í UMC»ç°¡ Çù·ÂÇÏ¿© ¼­ºêÆÄÀå ±â¼ú ¹× Á¢±Ù ¹æ¹ýÀ» äÅÃÇÔÀ¸·Î½á ¸¶½ºÅ© ºñ¿ë°ú ÅϾî¶ó¿îµå ½Ã°£À» ÁÙÀÎ »ç·Ê¸¦ »ìÆì º»´Ù.´õ ÀÚ¼¼ÇÑ ³»¿ëÀº PDF ¹öÀüÀ¸·Î Á¦°øµÇ°í ÀÖ½À´Ï´Ù.
 
 

ÀÌ ±â»ç¸¦ ÃßõÇÑ µ¶ÀÚ ¼ö :   ¼±È£ ±â»ç¿¡ Ãß°¡
ÀÇ°ß ¾²±â - ½Ã¹Ä·¹ÀÌ¼Ç ±â¹ÝÀÇ ¸¶½ºÅ© °áÇÔ ÀÎÁõ
¸Þ½ÃÁö:  
*  ¾ÕÀ¸·Î [0] ´Ü¾î°¡ ÀÔ·Â °¡´ÉÇÕ´Ï´Ù.
 

°¡Àå ¸¹ÀÌ ÀÐÀº ±â»ç
 •  ¾ó±¼ ÀνÄÇÏ´Â °¶·°½ÃS3, ¹«¼± ÃæÀü±îÁö!
 •  NXP, ÀÌÁ¦ ¡®»ç½Ç»óÀÇ Áß±¹ ¾÷ü¡¯! (II)
 •  STÀÇ ¹«¼± MCU, ½º¸¶Æ® ±×¸®µå ÇýÅà Á¦°ø
 •  Àü¼¼°è ºê·Îµå¹êµå ½ÃÀå, ´©°¡ °ßÀÎÇÒ±î? (III)
 •  °¶·°½ÃS3, Ãâ½ÃÀϰú °¡°ÝÀº?
 •  SMD ¼±Åà ¹× ¹èÄ¡ ±â°è ÀÛµ¿ ½±°Ô ÇØÁÖ´Â ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î (I)