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신제품
- 르크로이의 8포트와 12포트 신호 무결성 네트워크 분석기 (2012-01-31)
- 텍트로닉스, 새로운 시리얼 프로토콜 테스트 플랫폼 추가 (2012-01-25)
- 르크로이, 오토모티브 테스트 솔루션 출시 (2012-01-19)
- 안리쓰의 850MHz 셀룰러 대역 테스트 솔루션 (2012-01-18)
- TI, 커넥티드 자동차 인포테인먼트 위한 시스템 솔루션 제공 (2012-01-17)
- 르크로이, 최고 대역폭의 60GHz 실시간 오실로스코프 발표 (2012-01-16)
- 무선 시스템 전용 로직 분석기 (2012-01-11)
- 르네사스, 자동차용 임베디드 플래시 개발 (2012-01-05)
- 안리쓰, E-GSM 네트워크 겨냥한 PIM 분석기 선보여 (2012-01-02)
- WLAN 간섭 탐지기, 문제 해결을 빠르게! (2011-12-29)
- 애질런트, 초소형 분자 분광기 출시 (2011-12-21)
- ADI, 레퍼런스 컨디셔닝 회로 내장한 DAC 출시 (2011-12-15)
- 텍트로닉스, 핸드헬드 타입 오실로스코프 시장 진출 (2011-12-09)
- LTE/3G 네트워크 롤아웃 속도 높여주는 네트워크 분석기 (2011-12-07)
- eMBMS 지원하는 LTE 테스트 기기 (2011-12-06)
뉴스 및 동향
- ST의 놀라운 테스트 기술...비접촉식 테스트 웨이퍼 생산 (2012-01-31)
- 삼성전자 SSD, 미국 정보처리 표준 인증 획득 (2012-01-06)
- 2011 비하인드 스토리: 칩 전문가, 민간 우주선의 꿈에 올인하다! (2012-01-05)
- 후쿠시마 지진참사… 원전을 대신할 에너지원은 있는가? (2011-12-14)
- IMI, 작년보다 43퍼센트 매출 성장 (II) (2011-11-25)
- 제품 안 이모저모: 아마존 ‘킨들 파이어’의 선택은 저가 부품 (2011-11-24)
- IMI, 작년보다 43퍼센트 매출 성장 (I) (2011-11-24)
- 엔지니어들은 모두가 미친 사람들? (2011-11-23)
- ‘NI Days 2011’, NI 솔루션과 함께 하는 미래산업 비전 제시 (2011-11-23)
- 한국NI-에이앤티에스 협력, 무선 통신 시장 공략 (2011-11-17)
- 어플라이드머티어리얼즈, 베리안 세미컨덕터 인수 (2011-11-15)
- 제어 계측계의 전설 'NI CEO 제임스 트루차드', 한국 온다 (2011-11-11)
- 태국 홍수, Microsemi 제2 하청공장마저 폐쇄시켜! (2011-11-02)
- 무선 통신, 테스트 시장에 활력 불어넣어 (2011-10-06)
- 미국 특허법안, 무엇이 어떻게 바뀌었나? (2011-10-05)
기술 기사
- at-speed 테스트의 Over/Under 방지 통한 수율 저하 최소화 (2011-11-28)
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잡음 없는 디자인 위한 올바른 아날로그/디지털의 이해
(2011-06-01)
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MEMS 기반 임베디드 디자인의 하드웨어 결함 테스트 (2011-02-07)
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생산환경에서의 고휘도 LED 테스트 (2010-12-01)
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정형 검증이란 무엇인가? (2010-08-02)
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첨단 보정 및 테스트 방법 통한 모바일 장치 비용절감 (2009-04-01)
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WiMedia 컴플라이언스 테스트를 위한 해결과제 세 가지 (2009-04-01)
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자동차용 MEMS 기반 센서 시스템의 성능인증 (2009-02-02)
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시뮬레이션 데이터의 저장 및 재사용 통한 검증 속도 향상 (2008-12-01)
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다중 루프 피드백 시스템의 안정성 분석 방법 (2008-12-01)
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PSoC Express로 구현하는 정전용량성 센싱 (2008-11-03)
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HD 텔레비전의 주관적 화질 평가 대신하는 측정대안 (2008-09-01)
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LXI 오실로스코프로 구축하는 분산형 테스트 시스템 (2008-08-18)
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측정 작업의 영향 줄여주는 고속 직렬 데이터 분석 툴 (2008-08-01)
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OCP 버스 프로토콜 위한 효율적인 정형검증 자동화 (2008-07-01)
어플리케이션 노트
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ASK/FSK 무선 디바이스 테스트 제품 (2012-02-03)
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N9320B RF 스펙트럼 분석기 사용 방법 (2012-02-02)
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오프셋의 효과 알아보기 (2012-01-31)
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정확한 온도 측정 (2012-01-30)
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FlexRay 물리 계층 아이 다이어그램 마스크 테스트 (2012-01-23)
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PCIe 확인 및 호환 테스트 (2012-01-20)
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성능 스펙트럼 분석기로 왜곡 측정 (2012-01-19)
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잡음 지수 측정 팁 (2012-01-18)
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올바른 스코프 선택 (Part 2) (2011-12-07)
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